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本文標(biāo)題:目前表面粗糙測(cè)量技術(shù)的研究趨勢(shì)
信息分類:站內(nèi)新聞 新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-4-4 17:45:09
目前表面粗糙測(cè)量技術(shù)的研究趨勢(shì)
隨著光學(xué)、電子學(xué)以及計(jì)算機(jī)等技術(shù)的不斷進(jìn)步，同時(shí)也拓展出
了表面粗糙測(cè)量技術(shù)的研究方向。
自20世紀(jì)80年代不斷的研發(fā)設(shè)計(jì)出各種顯微鏡。其中不但包括原子力
顯微鏡、掃描隧道顯微鏡、掃描近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡還有光子掃描隧道顯微鏡
等。
將這些顯微鏡技術(shù)和計(jì)算機(jī)視覺技術(shù)相融合進(jìn)行研究，來進(jìn)行表面粗
糙度測(cè)量成為表面粗糙度測(cè)量技術(shù)研究新的熱點(diǎn)。
在很多領(lǐng)域中，比如科學(xué)研究中以及生產(chǎn)中，這其中都有一些外部因
素的限制，就比如工作環(huán)境的限制，要求在這些限制下進(jìn)行線測(cè)量。這就需
要進(jìn)行非接觸式的，且高效可靠的測(cè)量方法進(jìn)行研究。
在實(shí)現(xiàn)上面的在線測(cè)量的基礎(chǔ)上，還要向三維的更高精度的表面粗糙
度測(cè)量技術(shù)的方向上進(jìn)行發(fā)展延伸。
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本文出自上海永亨光學(xué)儀器有限公司，本文地址：http://m.000322.cn/xinwen/2128.html
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